品牌 | 优尔鸿信 | 产地 | 国产 |
---|
扫描电镜原理:
扫描电镜利用高能量电子束轰击样品表面,激发出样品表面的各种物理信号,再利用不同的信号探测器接受物理信号转换成图像信息,可对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察和成分分析。
扫描电镜检测项目:
SEM:形貌观察,利用背散射电子(BEI)和二次电子(SEI)来成像。
EDS:成分分析(半定量),通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。
样品要求:
1.试样为不同大小的固体(块状、薄膜、颗粒),并可在真空中直接进行观察。
2.试样应具有良好的导电性能,不导电的试样,其表面一般需要蒸涂一层金属导电膜
扫描电子显微镜的应用和用途
扫描电子显微镜的应用非常广泛,从金属学研究、矿物学研究、环境科学到微纳米科技等领域,都有其的应用。以下是一些主要的扫描电子显微镜的用途:
1. 表面形貌观察:SEM的用途是观察和分析物质表面的形貌。SEM图像可以揭示材料表面的微小结构,包括表面颗粒的大小、形状和间距等。
2. 元素分析:SEM配备的能谱仪(EDS)可以分析样品中各种元素的分布和含量。通过观察不同区域的元素分布,可以推断出材料的成分和可能的制备过程。
3. 微米和纳米尺度研究:SEM在纳米科技中起着至关重要的作用,它可以提供高分辨率的图像,显示纳米级别结构的细节。
4. 失效分析:SEM扫描电镜检测在电子工业、汽车工业和其他高科技产业中的失效分析中具有广泛应用。它可以揭示材料失效的原因,例如断裂表面上的微小结构。
5. 环境科学:SEM扫描电镜检测被广泛应用于土壤、水样和其他环境样本的研究。它可以揭示土壤颗粒的形状、大小和分布,以及可能的污染物。
6. 生物医学:SEM在生物学和医学研究中具有广泛的应用,可以揭示细胞表面的结构和化学成分,以及组织形态学的细节。
- 上一篇:三坐标校准
- 下一篇:检测重庆PCB板切片分析 电子组件失效分析