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电子电器温度冲击测试

电子电器温度冲击测试

简要描述:电子电器温度冲击测试常用于电子产品设计定型和量产阶段用于验证产品对温度急剧变化之后的性能变化,剔除产品的早期故障。

产品型号:

所属分类:电子电器检测

更新时间:2024-05-16

厂商性质:其他

详情介绍
品牌优尔鸿信

环境因素对产品可靠性有着显著的影响。在产品设计过程中,我们需要充分考虑产品对各种环境的适应能力,而环境试验则是一种有效的评估手段。常见的环境试验包括高温、低温、温度冲击、温度循环、低气压、盐雾、湿热、霉菌、振动和冲击等。

 

冷热冲击试验/温度冲击常用于产品设计定型和量产阶段用于验证产品对温度急剧变化之后的性能变化,剔除产品的早期故障。冷热冲击试验(温度冲击)加速了产品在高温和低温条件下失效的产生,高温和低温的失效都会反映在冷热冲击试验中。

参考标准:

环境试验方法第二部分:试验Na:温度变化 IEC 60068-2-14:2009

环境试验 第2 部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2012条款7 试验Na


温度冲击试验/冷热冲击试验主要验证产品或零部件在快速温度变化下的性能表现,如不同材料的收缩/膨胀特性可能导致零部件的变形、位移和破裂等问题。根据试验方法和设备的不同,温度冲击试验可分为两箱式冲击柜和三箱式冲击柜。两箱式冲击柜的工作方式为:高温→低温→高温;三箱式冲击柜的工作方式为:高温→常温→低温→常温→高温。

 

与温度循环试验相比,温度冲击试验的特点是温变时间是确定的,而温变速率则是变化的。




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