形位公差尺寸检测

在制造业中，产品的形位公差尺寸检测至关重要。随着科技的发展，尺寸检测技术已经从传统的手动测量工具，如卡尺和游标卡尺，演进到了高精度的自动化检测系统。本文将探讨尺寸检测技术的最新进展，以及它如何推动制造行业的变革。

优尔鸿信检测配备有数量众多的三次元测量机、非接触激光测量机等形位公差尺寸检测设备，量测实验室拥有几十名经验丰富的测量工程师，并获得CNAS资质，技术实力雄厚，测试结果准确稳定。

优尔鸿信实验室测试能力

尺寸量测

测试项目：FAI、Cpk、GRR、TVR、部份检、检 / 治具验证比对、共面度、翘曲度

测试参数：

长度尺寸（距离、直径、半径等）

角度尺寸（角度）

形位尺寸（线 / 面轮廓度、平面度、直线度、平行度、垂直度、圆度、圆柱度、倾斜度、位置度、同轴度、同心度、对称度）

共面度、翘曲度

标准方法：

相关报告：AUTO CAD 报表、AUTO CAD 报告、MSOP 制作、量测 MTD 报告、图片报告（CCD 拍照）

设备分类

影像三次元（非接触式）

型号： • VMS553(H)（X/Y 500mm、Z 250mm）
• VMS332(H)（X/Y 300mm、Z 200mm）
• VMS222（X/Y/Z 200mm）

允差：XY平面允差精度最高±1.5μm/m+3L；Z轴允差±2.0-3.0μm/m+4L

软件：统一采用Smart Inspector V3.0

三次元量床（接触式）

型号： • Global Image 153010（15m超大测量范围，精度±3.0+3.5L/1000μm）
• PowerMetro T-8106（800×1000×600mm，±(3.0+L/300)μm特殊允差）

高精度检测装备

GOM蓝光扫描仪： • ATOS Triple Scan SO 5M（MV60/MV170/MV320镜头组）
• ATOS Capsule 12M（MV70/MV120/MV200镜头组）
• 探针误差低达0.003mm（σ值）

3D光学轮廓仪： • Sensofar S-NEOX（白光干涉技术，0.1%重复性）
• ADE Micro XAM 1200（纳米级检测，相移模式0.05nm重复性）