静电放电（ESD）是导致早期失效和潜在损伤的头号杀手。无论是功率器件、传感器还是分立器件，任何一道工序的静电积累都可能让芯片内部击穿，造成不可逆损坏。半导体ESD测试已成为晶圆厂、封测厂和IDM企业必须跨越的可靠性准入门槛。