车规芯片ESD测试

汽车电子对可靠性的要求极为苛刻——工作温度范围宽、使用寿命长、故障率趋近于零。AEC-Q100作为车规芯片的标准，明确规定了ESD测试的要求（HBM ≥ 2kV，CDM ≥ 500V），但对于应用（如ADAS、动力总成），整车厂往往要求更高的耐受电压（如HBM 8kV）。因此，车规级ESD测试不仅是合规要求，更是产品竞争力的体现。

车规芯片ESD测试的特殊性

更严的失效判据：车规级测试通常要求测试后器件参数变化小于±5%，且无任何功能失效。

多次抽样：需覆盖多个批次，确保工艺稳定性。

环境适应性：ESD测试后可能结合高温老练，模拟实际工况。

优尔鸿信的车规芯片ESD测试能力

优尔鸿信检测实验室按照AEC-Q100（Rev-H）要求建立测试流程：

HBM测试：Z高8kV，覆盖所有引脚组合。

CDM测试：Z高2kV，针对SoC、MCU等复杂芯片。

可选MM测试：根据客户需求补充。

我们采用Thermo原装设备，确保波形参数（上升时间、脉宽）严格符合标准。测试报告包含详细的失效电压等级、I-V曲线、漏电数据，可直接用于AEC-Q100认证提交。

我们的优势

标准全覆盖：同时符合JEDEC、ESDA、AEC-Q100。

失效分析支持：对于失效样品，可提供OBIRCH、EMMI等定位分析。

一站式服务：除ESD外，还可配套HTOL、TC、HAST等可靠性测试。

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