电子元器件ESD检测

简要描述：电子元器件ESD检测（静电放电测试）是一种可靠性测试，它通过模拟现实生活中可能发生的各种静电放电事件，将标准化的静电脉冲施加到半导体器件的特定引脚上，然后检测其电学参数和功能是否发生变化，以此来评定该器件抵抗静电放电冲击的能力。

所属分类：电子元器件检测

更新时间：2025-09-12

厂商性质：其他

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品牌	优尔鸿信

静电在我们的生产和生活环境中无处不在。人体行走、摩擦衣物等都可能产生数千伏的静电（人通常感知不到3-4千伏以下的静电）。如果操作人员没有采取正确的防静电措施（如佩戴防静电手环），徒手触摸芯片引脚时，人体积累的静电就会通过引脚放电到芯片内部，造成损坏。此外，生产设备、测试设备、包装材料等都可能成为静电的来源。

电子元器件ESD检测（静电放电测试）是一种可靠性测试，它通过模拟现实生活中可能发生的各种静电放电事件，将标准化的静电脉冲施加到半导体器件的特定引脚上，然后检测其电学参数和功能是否发生变化，以此来评定该器件抵抗静电放电冲击的能力。

目的：评估芯片本身固有的抗静电能力，是芯片设计、工艺和制造质量的体现。这部分测试通常在芯片封装完成后进行，是出货前的必测项目。

电子元器件ESD检测已经形成了非常成熟和标准化的体系。以下是参考标准：

测试模型	模拟场景	核心标准	主要特点
HBM (人体模型)	人体触摸放电	ANSI/ESDA/JEDEC JS-001	RC放电，能量中等，历史悠久
MM (机器模型)	金属机器/工具放电	ANSI/ESDA/JEDEC JS-002	电容直接放电，电流大，破坏性强
CDM (充器件模型)	芯片自身放电	ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 (标准CDM)	最常见，放电速度快，峰值电流
系统级ESD	整机设备遭受外部静电	IEC 61000-4-2	针对完整产品，测试其接口和外壳的抗扰度

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