ESD人体放电模型测试

半导体 ESD（静电放电）测试是评估器件抗静电耐受能力的可靠性测试，通过模拟生产、运输、使用场景中的真实静电冲击，验证器件在不发生灾难性失效或潜在损伤下的最大耐受电压，是半导体器件量产准入的强制性门槛。

优尔鸿信检测实验室专注半导体器件可靠性验证，提供ESD 静电放电测试方案，，助力芯片设计企业、封测厂、汽车电子厂商快速完成可靠性验证。

半导体 ESD 测试项目

实验室覆盖半导体行业三大 ESD 测试模型，单次送样即可完成全项检测，无需拆分委托。

1. HBM 人体放电模型测试

模拟人体携带静电接触器件引脚时的放电场景，是半导体器件最基础的 ESD 测试项。

测试范围：最高支持 8kV 等级测试

适用场景：器件出厂检验、量产准入、研发防护验证

2. MM 机器放电模型测试

模拟生产设备、金属工装、自动化器械等带电机具对器件的放电过程，放电阻抗更低、电流峰值更高。

测试范围：最高支持 2kV 等级测试

适用场景：晶圆制造、封装测试、自动化组装场景验证

3. CDM 带电器件模型测试

模拟器件自身累积静电后，接触接地导体时的快速放电，是当前半导体生产中最常见的失效诱因，也是 ESD 验证的核心难点。

测试范围：最高支持 2kV 等级测试

适用场景：高速自动化产线防护验证、器件 ESD 结构考核

半导体ESD测试标准

国外半导体标准：ANSI/ESDA/JEDEC JS-001、ANSI/ESDA/JEDEC JS-002

车规可靠性标准：AEC-Q100（集成电路）、AEC-Q101（分立器件）

国内行业标准：GB/T 半导体器件静电放电测试系列标准

优尔鸿信检测实验室优势

1. 进口原装设备，数据准确可复现

配备 Thermo 原装半导体 ESD 测试系统，波形参数精准可控，测试结果重复性高，避免因设备精度不足导致的研发返工与认证不通过。

2. 全模式一站式服务，交付高效

HBM/MM/CDM 三大模型全能力覆盖，单次送样、一次对接完成全项测试，常规项目最快 3-5 个工作日出具正式报告。

3. FA技术团队，配套失效分析

团队由资深半导体可靠性工程师组成，不仅提供测试数据，可同步支持 ESD 失效机理分析、防护设计优化建议，助力客户快速迭代产品。

适用器件范围

集成电路类：逻辑芯片、模拟芯片、MCU、SOC、存储器等

分立器件类：二极管、三极管、MOS 管、IGBT、功率器件等

传感器类：MEMS 传感器、图像传感器、温湿度传感器等

光电器件类：LED、激光二极管、光耦、光电传感器等

其他半导体器件：射频器件、保护器件、晶圆级器件等

如需获取专属半导体 ESD 测试方案与报价，可直接联系优尔鸿信检测，1 个工作日内定制检测方案。